Bethge-Center for Micro-Characterisation
Das Bethge-Center for Micro-Characterisation (BCMC) betreibt als DFG-Großgerätezentrum ein hochauflösendes Röntgenmikroskop sowie ein ESEM-FIB, ein ESEM, ein Raman-AFM-Mikroskop und ein FTIR-Mikroskop, die zur Charakterisierung von Materialien eingesetzt werden. Damit stehen den unterschiedlichen Nutzern inner- wie auch außeruniversitärer Einrichtungen als auch Start-Ups die vielfältigen Möglichkeiten der konventionellen aber auch der höchstauflösenden und analytischen Mikro-Charakterisierung offen. Während das Röntgenmikroskop XRadia 810 Ultra ausschließlich durch entsprechend geschulte Mitarbeiter des Lehrstuhls für Mikrostrukurbasiertes Materialdesign (Prof. Wehrspohn) sowie vom BCMC direkt genutzt werden kann, stehen weitere Mikrostrukturaufklärungsgeräte entsprechend der zeitlichen Kapazitäten eingewiesenen Nutzern zur eigenständigen Arbeit zur Verfügung. Die Nutzung für Serviceaufträge, weitere Dienstleistungen des BCMC sowie die Kosten werden in der Nutzerordnung geregelt.
Kontakt
Dr. Stefan Schweizer
Raum Eingang C, 1. OG rechts
Heinrich-Damerow-Str 4
06120 Halle
Telefon: (0345)-50-28515
swiss@physik.uni-halle.de
Postanschrift:
Dr. Stefan Schweizer
Institut für Physik
06099 Halle
| Wissenschaftliche Geräte | Proben | Charakterisierung |
|---|---|---|
| Röntgenmikroskop Zeiss Xradia 810 Ultra | poröse Materialien | Hohlräume, Faserstärken |
| Raster-Elektronenmikroskop FEI quanta 650 FEG | für Oberflächen aller Art | Strukturen Risse |
| Raster-Elektronenmikroskop mit Ionenstrahl FEI versa 3d | für Oberflächen aller Art | optische Charakterisierung |
| Röntgenspektrometer Ametek EDX Octane elite plus | kristalline Proben | Materialzusammensetzung |
| Raman-Spektrometer Horiba Labram HR Evolution | Raman-aktive Materialien | Zusammensetzng, qualitativ und quantitativ |
| Raster-Kraft-Mikroskop AIST-NT Smart SPM-1000 | beliebige Oberflächen | Rauigkeit, Risse, Phasengrenzen |
| Infrarot-Spektrometer Bruker IFS 66/S mit Hyperion | IR-aktive Stoffe, beliebige Oberflächen, Flüssigkeiten | Schichtdicken, Zusammensetzung qualitativ und quantitativ |
| Röntgen-Diffraktometer Bruker D8 Advanced | kristalline Schichten | Strukturaufklärung |