200 kV Raster-Transmissionselektronenmikroskop
JEM 2010 (Fa. JEOL)
mit: - EDX Mikroanalysesystem Voyager 1100 (Fa. Noran Instruments)
(Ge-Leichtelementdetektor)
- TV Kamera mit Bildverstärker
und Digital-Image-Processor-Einheit (Fa. Gatan)
- Kühl- und Dehnhalter für
in situ Verformungsuntersuchungen (Fa. Gatan) |
|
120 kV Transmissionselektronenmikroskop EFTEM LEO 912
(Fa. Leo)
mit: - "in-column"-OMEGA-Energiefilter
- 2k-Slow Scan CCD-Kamera (Fa. PROSCAN)
- Digitaler Rasterzusatz mit BF-, DF-,
SE- und BSE-Detektor
- EsiVision-Bildverarbeitungssystem
- Kühl- und Dehnhalter für
in situ Verformungsuntersuchungen (Fa. Gatan) |
|
Rasterelektronenmikroskop JSM 6300 (Fa. JEOL)
mit: - EDX Mikroanalysesystem Voyager 1100 (Fa. Noran Instruments)
(Si-Leichtelementdetektor)
- In situ Dehnvorrichtung (Fa.
Oxford Instruments)
(-170 °C bis +300
°C, 200 N) |
|
| Rasterkraftmikroskop Nanoscope IIIa MultiMode |
|
| Rasterkraftmikroskop Nanoscope IV Dimension 3000 |
|
| Bildverarbeitungssystem AnalySIS |
|
| (Kryo-)Mikrotomie und (Kryo-)Ultramikrotomie |
|
| HV-Bedampfungstechnik und Sputtergeräte |
|
| Schleif- und Poliertechnik |
|
