200 kV Raster-Transmissionselektronenmikroskop JEM 2010 (Fa. JEOL)
- EDX Mikroanalysesystem Voyager 1100 (Fa. Noran Instruments) mit Ge-Leichtelementdetektor
- TV Kamera mit Bildverstärker und Digital-Image-Processor-Einheit
(Fa. Gatan)
- Kühl- und Dehnhalter für in situ Verformungsuntersuchungen
(Fa. Gatan)