Rasterelektronenmikroskop JSM 6300 (Fa. JEOL)
- EDX Mikroanalysesystem Voyager 1100 (Fa. Noran Instruments) mit Si-Leichtelementdetektor
- Digitales Bildaufnahme- und Speichersystem
- Temperierbares 200N - Zugmodul (Fa. Oxford)